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测厚仪 测厚仪的定义 分类及用途

2011-10-28 14:15:57 本文行家:付兴森

测厚仪(thicknessgauge)是用来测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产品的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用α射线、β射线、y射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计,目前还处在研制、试验阶段。


测厚仪

               
测厚仪 

测厚仪(thickness gauge )是用来测量物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续测量产品的厚度(如钢板、钢带、纸张等)。这类仪表中有利用α射线、β射线、y射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有电容式厚度计等。而利用微波和激光技术制成厚度计,目前还处在研制、试验阶段。

 
科技名词定义  
中文名称:测厚仪
英文名称:thickness gauge
 
测厚仪分类:  
X射线测厚仪
  纸张测厚仪    薄膜测厚仪    涂层测厚仪   在线测厚仪
  超声测厚仪
  压力测厚仪
  白光干涉测厚仪
  电解式测厚仪
  机械接触式测厚仪
  X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
  主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
  纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
  薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
  涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
  超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
 
测厚仪  测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,
  
BUT300超声波测厚仪BUT300超声波测厚仪
当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
 
 
 
 
 
 
 

涂层测厚仪的详细介绍

涂层测厚仪 

涂层测厚仪HS2200涂层测厚仪
HS2200涂层测厚仪 1、测量速度快
2、精度高  
3、稳定性好
4、保修3年
5、平时使用无须校准.
6、低价位
HS2200采用了磁性测厚方法,HS2200镀层测厚仪无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。HS2200镀层测厚仪能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。HS2200镀层测厚仪一种便携式测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。
使用环境温度:0~40℃
  电源:镍氢电池    3V
外型尺寸:120×80×30mm
  重量:200g
测量范围:0~1250μm
测量误差:(2%H+1) 二点校准精度1%
主要功能
  二种校准方法: 一点校准、二点校准
  显示分辨率: 1μm
存储:存储100个数据
统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)
  有两种测量方式:连续测量和单次测量
  有两种关机方式:手动关机和自动关机
  有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;
  有音乐铃声随时对操作进行提示
  有电源欠压指示功能 ,背光设置.
  错误提示功能
纸张测厚仪性能特点及参数  
该仪器适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

技术指标:

  1.测量范围:0-3mm
  
2.测量精度:0.001mm
  3.接触压力:100±10kpa
  4.接触面积:2±0.05cm2
  非接触式纸张测厚仪
  最近英国真尚有公司研发出了新的非接触式测量方法,可以实现对纸张的非接触式测量,避免对纸张造成形变引起误差。
  非接触式测厚仪的测量原理
  使用两个纸张厚度传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。
 
涂镀层测厚仪分类:  涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:  1.磁性测厚法:适用层磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。  2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。  3.超声波测厚法:目前辆还没有此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。  4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。  5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。  国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。

磁性测厚仪

 磁性测厚仪一体式仪器结构,可以单手操作。它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度,还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。

涡流测厚仪

  涡流测厚仪是一种小型仪器,采用涡电流测量原理,可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层,或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

涡流测量原理

  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
如何选购测厚仪:  
1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量),如铜层在10m~200m可考虑电涡流法测厚仪(无损测量)。 
 2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量)。 
 3、铁基体上的电泳漆,油漆应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体上的电泳漆,油漆应使用经济的电涡流法测厚仪(无损测量)。 
 4、干膜是指己固化了的油漆涂层。  
 5、镀铬层参考2项、1项。 
 6、车内外饰件喷漆只有用切锲法(PIG,会破坏涂层),超声波法(无损测量)可测10微米以上涂层,但有时测不到。 
测厚仪使用主意事项  测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。  
在做测厚的时候要注意以下八点:   
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。  
2.在测量的时候要注意,侧头与试样表面保持垂直。  
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。 
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。  
5.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。  
6.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7.在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。  
8.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
各类测厚仪参考标准:  
HG/T 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件   
HG/T 3240-2007 电脑膜层测厚仪   
HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件   
HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪   
JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范   
JJG (轻工) 87-1992 便携式地毯测厚仪检定规程   
JJG (轻工) 88-1992 数显式地毯测厚仪检定规程   
JJG 403-1986 超声波测厚仪  
JJG 480-1987 X射线测厚仪检定规程   
JJG 480-2007 X射线测厚仪检定规程   
JJG 818-1993 电涡流式测厚仪(试行)   
JJG 889-1995 磁阻法测厚仪   
NJ 372-1985  轮辋用测厚仪   
ZB N 13003-1987 搪瓷测厚仪技术条件   
ZB N 72023-1989 内孔涂层测厚仪技术条件   
ZB N 77001-1989超声测厚仪 通用技术条件
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